Zerstörungsfreie Prüfung:

• Nanofokus-Röntgenanlage nanome|x
• Röntgen-CT-Anlage nanotom
• Ultraschall-Mikroskop Sonoscan Gen5
• Fischerscope Röntgen-System XDL
• REM Zeiss SUPRA40 VP

Oberflächencharakterisierung:

• Kontaktwinkelmessgerät OCA 20
• Oberflächenmesssysteme Nanofocus µScan AF2000 und µSurf
• 3D-Koordinatenmessgerät PMC 500
• Thermoire Akrometrix

Metallografie:

• Schleif- und Poliersystem TegraSystem (TegraForce-5, TegraPol-35)
• Präzisionstrennmaschinen IsoMet 1000 (bis 1000 U/min), Accutom-2 (3000 U/min)
• Auflichtmikroskop Leica DM4000 M (bis 1000fach) mit digitaler Bildaufnahme (2080x1544 Pixel)