Vom 17. bis 22. Juli fand an Georgia Tech in Atlanta, USA, die weltgrößte Konferenz zum Themengebiet der zerstörungsfreien Prüfung mit insgesamt fast 1.000 Teilnehmern statt. Herr Dr. Oppermann, ZmP, präsentierte die Anwendung der hochauflösenden Röntgen-Computer-Tomographie für die Untersuchung von miniaturisierten Aufbauten des Electronic Packaging.